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微歐計和DMM的測量值差異較大。
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正在使用微歐計RM3544。測量100Ω左右的金屬時，和使用手持DMM測出的數值差異較大。導致這個差異的原因是什么？ A.
一般手持DMM的電阻測量是使用2端子測量法，會出現配線電阻和接觸電阻的影響。
針對這點，像低電阻計（微歐計）RM3544這類專業儀器使用的是4端子測試方法，可以進行不受接觸電阻和配線電阻影響的高精度的電阻測量。
其他常見問題
- 無法發出判斷信號 RM3545、RM3544-01
- RM3545是屬于雙橋還是電位計
- 電阻測量量程的設置 通訊指令
- 關于4端子測試線 電阻計
- 探頭線路斷線時的顯示 RM3545
- 通訊指令的確認 通訊監測功能
- 無需調零嗎？ RM3544
- 關于保護端口 RM3545、RM3544
- 組裝到自動設備 注意事項
- RM3544-01超量程或出現“ ---”。
- 關于數據輸出功能 電阻計
- 關于測量繞組電阻時的故障的注意事項 RM3545
- 電阻值顯示負數 RM3544
- 【電阻計】電阻值下降
- 選型手冊 電阻計
- 無法輸出BCD信號 RM3545
- 導通蜂鳴器不響 卡片式萬用表
- 夾型測試線的延長 電阻計
- 毫歐計和DMM的測量值差異較大是什么原因？
- 可以進行電阻測量的對象有？
- 微歐姆計和DMM的測量值的差大嗎？
- 低電阻計校準的注意事項
- 電阻計RM3544-01的外部控制端子（NPN和PNP）
- RM3544-01/RM3545用打印機
- RM3544的ERR：098（Blown FUSE） 保險絲熔斷
- 無法利用USB通訊（RM3545）
- 電阻計的測量時間 RM3545 RM3544
- 無法和電阻計通訊 RS232C
