2025慕尼黑上海電子生產設備展——productronica China，作為亞洲電子制造行業風向標，將于3月26-28日在上海新國際博覽中心舉辦。HIOKI日置作為全球電氣測量領域領跑者，將攜一系列具有突破性的產品與解決方案閃耀登場，在此，誠摯邀請您蒞臨E5-5111展位，一同探索前沿科技，共話行業新篇。

作為電子與半導體產業高精度測量的創新引擎，HIOKI日置致力于為全球客戶提供μm級的高速測量方案，深度賦能高密度半導體2.5D/3D封裝測試、SiC和GaN功率半導體器件評估等關鍵環節。

【參展亮點搶先曝光】

●飛針測試機FA1815-20

隨著人工智能（AI）時代的來臨，將多個IC芯片集成在一個半導體上的2.5D/3D等封裝方法，成為未來AI等高密度半導體的重要技術。HIOKI已開發出FA1815飛針測試機，支持TSV, 玻璃基板和RDL的檢測。HIOKI的檢測設備已經在FC-BGA檢查市場中廣泛應用，擁有豐富的經驗，此次與半導體制造商共享Roadmap，研發了NEXT時代的測量設備FA1815系列！

實現了最快100 points/sec的高速檢測與探測精度的提高；10V的電壓下，絕緣測試量程高達100GΩ，以更高的效率和可靠性，推動基板制造邁向新的高度。

●功率分析儀 PW8001

隨著半導體材料和制造工藝的不斷發展，例如碳化硅（SiC）、氮化鎵（GaN）等先進器件的出現，帶來了更高的開關頻率，這使得減少高頻范圍內的功率損耗成為一項研發挑戰。    

日置功率分析儀系列中的旗艦版“PW8001”， 其高采樣性能（18-bit，15 MHz）和抗干擾性（CMRR 110 dB / 100 kHz），可準確捕捉高速開關波形，把握高速開關產生的功率變化。

●阻抗分析儀 IM7587

可穩定測量高達 3GHz 的阻抗，覆蓋大范圍測量頻率。降低偏差實現高穩定性測量。廣泛應用于電子元件的研發到生產線各領域。

最短 0.5ms（0.0005 秒）的高速測量，能夠快速檢查大量電子元件；主機尺寸小巧、輕便，可通過同時安裝多臺來縮短檢查時間，提高生產效率；等效電路分析功能下，可以通過模擬功能，使用推測結果或者任意的常數來顯示頻率特性的理想值使用比較器功能，還能夠確定測量結果是否在判定區域內。

用于IM7583，IM7585，IM7587 的測試頭

測量部分實現了寬量程范圍的阻抗測試和最小偏差的測量，并能消除各回路中的干擾，減少誤差實現高速運算處理。此外，采用了貼合基板和IC形狀的固態屏蔽層，降低了內部的交互耦合現象，還降低了對外部的輻射影響，提高了抗干擾性能，在機身做到最輕量級別的同時也滿足EMC 的高標準。

【邀您參與日置90周年限定打卡活動，有機會贏取大獎！】

2025年1月2日，【日置90周年】限定打卡活動已經正式啟動，凡是參與在活動期間推出的任意線下/線上活動（需包含“日置90周年”字樣），掃描活動二維碼提交即完成1次打卡。

此次慕尼黑電子展，來HIOKI日置展臺E5-5111即可完成1次打卡！期待與您的相聚，我們不見不散！

點擊查看打卡活動詳情